项目简介
磁盘缺陷检测分析仪通过提高磁头以及放大电路的灵敏度,发现纳米级的微小磁盘缺陷,对发现的缺陷进行精确定位,杜绝缺陷的遗失。还能使用光学和原子力显微镜对缺陷类型进行高效和深入的分析,最后通过软件系统输出详细的分析报告。
技术特点
此分析仪的其核心技术是一个稳定可靠的、可以同时对样品进行检测和定位分析的平台,是目前世界上第一个成功的把原子力显微镜和磁盘缺陷检测结合起来的综合性仪器。主要技术特点是:既能够快速的检测,还能够精确的定位,目前定位的精度为0.5um;通过自动控制,可以在很短时间里,对磁盘使用不同手段进行检测,从而可以提供高效和全面的检测报告;自主开发的软件,可以让磁盘检测安全可靠的自动运行,也可以对磁盘进行自由的手动检测。
应用范围
磁盘缺陷检测分析仪可以在实验室里,对生产线下来的磁盘进行离线分析。也可以用作对次品硬盘存储器里的磁盘(File Return)进行售后技术服务的原因分析。
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